Metode pengujian dan aturan inspeksi
1. Inspeksi batch demi batch (inspeksi Grup A)
Setiap batch produk harus diperiksa sesuai dengan Tabel 1, dan semua item pada Tabel 1 tidak merusak.
Tabel 1 Pemeriksaan Per Batch
| Kelompok | Item Inspeksi | Metode Inspeksi | Kriteria | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Penampilan | Inspeksi visual (dalam kondisi pencahayaan dan penglihatan normal) | Logo jelas, lapisan permukaan dan pelapisan bebas dari pengelupasan dan kerusakan. | 1.5 |
| A2a | Karakteristik listrik | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) dalam JB/T 7624—1994 | Polaritas terbalik: VFM>10USLIRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) dalam JB/T 7624—1994 | Keluhan untuk persyaratan | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) di JB/T 7624—1994 | Keluhan untuk persyaratan | ||
| Catatan: USL adalah nilai batas maksimal. | ||||
2. Inspeksi berkala (inspeksi Grup B dan Grup C)
Menurut Tabel 2, produk akhir dalam produksi normal harus diperiksa setidaknya satu batch Grup B dan Grup C setiap tahun, dan item pemeriksaan yang ditandai dengan (D) adalah uji destruktif.Jika inspeksi awal tidak memenuhi syarat, pengambilan sampel tambahan dapat dilakukan inspeksi ulang sesuai Lampiran Tabel A.2, tetapi hanya sekali.
Tabel 2 Pemeriksaan Berkala (Kelompok B)
| Kelompok | Item Inspeksi | Metode Inspeksi | Kriteria | Rencana Pengambilan Sampel | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Siklus suhu (D) diikuti dengan penyegelan |
| Pengukuran setelah tes：VFM≤1.1USLIRRM≤2USLtidak bocor | 6 | 1 |
| CRRL | Berikan secara singkat atribut yang relevan dari setiap kelompok, VFMdan sayaRRMnilai sebelum dan sesudah tes, dan kesimpulan tes. | ||||
3. Inspeksi identifikasi (inspeksi grup D)
Ketika produk diselesaikan dan dimasukkan ke dalam penilaian produksi, selain inspeksi kelompok A, B, C, uji kelompok D juga harus dilakukan sesuai Tabel 3, dan item inspeksi yang ditandai dengan (D) adalah uji destruktif.Produksi normal dari produk jadi harus diuji setidaknya satu batch Grup D setiap tiga tahun.
Jika inspeksi awal gagal, pengambilan sampel tambahan dapat dilakukan inspeksi ulang sesuai Lampiran Tabel A.2, tetapi hanya sekali
Tabel 3 Uji Identifikasi
| No | Kelompok | Item Inspeksi | Metode Inspeksi | Kriteria | Rencana Pengambilan Sampel | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Tes beban siklus termal | Waktu siklus: 5000 | Pengukuran setelah pengujian:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Guncangan atau getaran | 100g: tahan 6ms, bentuk gelombang setengah sinus, dua arah dari 3 sumbu yang saling tegak lurus, 3 kali di setiap arah, total 18 kali.20g: 100~2000Hz，2j di setiap arah, total 6j. | Pengukuran setelah pengujian: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Berikan secara singkat data atribut yang relevan dari masing-masing kelompok, VFM, IRRMdan sayaDRMnilai sebelum dan sesudah tes, dan kesimpulan tes. | |||||
Penandaan dan Pengemasan
1. Tandai
1.1 Tandai pada produk termasuk
1.1.1 Nomor produk
1.1.2 Tanda identifikasi terminal
1.1.3 Nama atau merek dagang perusahaan
1.1.4 Pemeriksaan kode identifikasi lot
1.2 Logo pada karton atau instruksi terlampir
1.2.1 Model produk dan nomor standar
1.2.2 Nama dan logo perusahaan
1.2.3 Rambu tahan lembab dan tahan hujan
1.3 Paket
Persyaratan pengemasan produk harus mematuhi peraturan domestik atau persyaratan pelanggan
1.4 Dokumen produk
Model produk, nomor standar penerapan, persyaratan kinerja kelistrikan khusus, penampilan, dll. harus dinyatakan pada dokumen.
Itudioda lasdiproduksi oleh Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor secara luas diterapkan pada tukang las resistansi, mesin las frekuensi menengah dan tinggi hingga 2000Hz atau lebih.Dengan tegangan puncak ultra-rendah ke depan, resistansi termal ultra-rendah, teknologi manufaktur canggih, kemampuan substitusi yang sangat baik, dan kinerja yang stabil untuk pengguna global, dioda pengelasan dari Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor adalah salah satu perangkat tenaga China yang paling andal produk semikonduktor.
Waktu posting: Jun-14-2023